Study on Characterization and Application of Silicon Single Electron Devices

Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/2261/1890

タイトル:	Study on Characterization and Application of Silicon Single Electron Devices
その他のタイトル:	シリコン単一電子素子の特性評価とその応用に関する研究
著者:	Ishiguro, Hiroki
著者(別言語):	石黒, 仁揮
キーワード:	シリコン
Issue Date:	29-Mar-1999
内容記述:	報告番号: 甲14246 ; 学位授与年月日: 1999-03-29 ; 学位の種別: 課程博士 ; 学位の種類: 博士(工学) ; 学位記番号: 博工第4372号 ; 研究科・専攻: 工学系研究科電子工学専攻
URI:	http://hdl.handle.net/2261/1890
Appears in Collections:	021 博士論文 1132220 博士論文(電子工学専攻)

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