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タイトル: HTS Quasi-Particle Injection Devices for Interfaces between SFQ and CMOS Circuits.
著者: Shiga, Hidehiro
Okabe, Yoichi
著者(別言語): 岡部, 洋一
キーワード: interface
quasi-particle
SFQ
CMOS
発行日: 2002年5月
出版者: Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
掲載誌情報: IEICE Transactions on Electronics, E85-C (3). pp. 650-653
抄録: We have fabricated a prototype of interface devices between SFQ and CMOS circuits using HTS quasi-particle injection devices. By the injection of quasi-particles, the bridge area becomes resistive and high voltage appears at the drain electrode. As a test of device operation, we applied the signal of a function generator to the gate electrode and observed that the device successfully repeated on/off operation. We also succeeded in explaining the device characteristics by considering the thermal effects.
URI: http://hdl.handle.net/2261/25
ISSN: 09168524
出現カテゴリ:16610 学術雑誌論文
015 技術・工学

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