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タイトル: 特集5 : 研究速報 : 走査電子顕微鏡(SEM)を用いた表面粗さ測定の基礎研究
その他のタイトル: Surface Roughness Measurement by Scanning Electron Microscope
著者: 佐藤, 壽芳
大堀, 真敬
著者(別言語): Sato, Hisayoshi
O-hori, Masanori
発行日: 1980年11月1日
出版者: 東京大学生産技術研究所
掲載誌情報: 生産研究. 32(11), 1980.11.1, pp. 530-532
内容記述: 特集:生産・加工システムの最適化
URI: http://hdl.handle.net/2261/37626
ISSN: 0037105X
出現カテゴリ:生産研究
生産研究

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