UTokyo Repository 東京大学
 

UTokyo Repository >
134 生産技術研究所 >
生産研究 >

このページ(論文)をリンクする場合は次のURLを使用してください: http://hdl.handle.net/2261/39180

タイトル: 特集10 : 研究速報 : 走査電子顕微鏡(SEM)による表面形状測定 : 法線検出法による
その他のタイトル: Measurement of Surface Shape by Scanning Electron Microscope Using Detection of Normal Direction
著者: 佐藤, 壽芳
大堀, 真敬
著者(別言語): Sato, Hisayoshi
O-HORI, Masanori
発行日: 1985年11月1日
出版者: 東京大学生産技術研究所
掲載誌情報: 生産研究. 37(11), 1985.11.1, pp. 481-484
内容記述: 特集 生産・加エシステムの最適化
URI: http://hdl.handle.net/2261/39180
ISSN: 0037105X
出現カテゴリ:生産研究
生産研究

この論文のファイル:

ファイル 記述 サイズフォーマット
sk037011012.pdf481.58 kBAdobe PDF見る/開く

本リポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2010  Duraspace - ご意見をお寄せください