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タイトル: EFFECTS OF ALUMINUM OVER-LAYER THICKNESS ON CHARACTERISTICS OF NIOBIUM TUNNEL-JUNCTIONS FABRICATED BY DC MAGNETRON SPUTTERING
著者: Nakayama, Akiyoshi
Nagashima, Haruo
Shimada, Junichi
Okabe, Yoichi
著者(別言語): 岡部, 洋一
中山, 明芳
キーワード: JOSEPHSON
発行日: 1995年6月
出版者: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
掲載誌情報: IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITY 5 (2): 2299-2302 Part 3
抄録: We have fabricated Nb/AlOX/Nb Josephson tunnel junctions using a sputtering apparatus with a load-lock system. The junctions that had 50 mu m x 50 mu m area showed a V-m value (the product of the critical current and the subgap resistance at 2 mV) as high as 50 mV at a current density of 160 A/cm(2). Moreover, junctions having different thicknesses of the Al over-layer were concurrently fabricated on one wafer to study the dependence of the current-voltage characteristics on this Al over-layer. The I-V characteristics were also calculated by McMillan's tunneling model and were compared with the measured I-V characteristics.
URI: http://hdl.handle.net/2261/40
ISSN: 10518223
出現カテゴリ:16610 学術雑誌論文
015 技術・工学

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