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タイトル: 特集3 : 研究解説 : 光電子回折法による固体表面構造解析の進歩
その他のタイトル: Advances in Structural Analysis of Solid Surfaces by Photoelectron Diffraction
著者: 二瓶, 好正
一戸, 裕司
中間, 哲也
著者(別言語): NIHEI, Yoshimasa
ICHINOHE, Yuji
NAKAMA, Tetsuya
発行日: 1993年11月1日
出版者: 東京大学生産技術研究所
掲載誌情報: 生産研究. 45(11), 1993.11.1, pp. 779-786
抄録: 光電子回折法は,固体表面の電子状態と表面原子の配列・構造や吸着構造など固体表面の原子構造の両者の情報を同時に提供してくれる,比較的新しい表面解析法である.本稿では本法の最近の進歩と動向について紹介する.
内容記述: 小特集 RGOE(界面原子操作の基礎と応用)
URI: http://hdl.handle.net/2261/49829
ISSN: 0037105X
出現カテゴリ:生産研究
生産研究

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