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インデックス
0 資料タイプ別
20 学位論文
021 博士論文
113 工学系研究科・工学部
21 電子工学専攻
1132220 博士論文(電子工学専攻)
Permalink : http://doi.org/10.11501/3095468
Characterization of Heterojunction Band Offsets by In Situ Photoemission Spectroscopy
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File / Name
License
109998.pdf
109998.pdf (9.14MB)
[ 17 downloads ]
JaLC DOI
info:doi/10.11501/3095468
アイテムタイプ
学位論文 / Thesis or Dissertation
言語
英語
キーワード
半導体
その他のタイトル
光電子分光法による半導体ヘテロ接合バンド不連続の評価
著者
Hashimoto Yoshio
著者別名
橋本 佳男
著者所属
東京大学大学院工学系研究科 電子工学専攻
発行年
1993-03-29
日本十進分類法
549.8
学位名
博士(工学)
学位
doctoral
学位分野
Engineering (工学)
学位授与機関
University of Tokyo (東京大学)
研究科・専攻
Department of Electronic Engineering, Graduate School of Engineering (工学系研究科電子工学専攻)
学位授与年月日
1993-03-29
学位授与番号
甲第9998号
学位記番号
博工第3013号
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