WEKO3
アイテム
Characterization of Heterojunction Band Offsets by In Situ Photoemission Spectroscopy
https://doi.org/10.11501/3095468
https://doi.org/10.11501/30954684a46c9c8-6b8f-4e1c-94fd-8ecaaa52d2d4
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
109998.pdf (9.1 MB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2012-03-01 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Characterization of Heterojunction Band Offsets by In Situ Photoemission Spectroscopy | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 半導体 | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
| タイプ | thesis | |||||
| ID登録 | ||||||
| ID登録 | 10.11501/3095468 | |||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | 光電子分光法による半導体ヘテロ接合バンド不連続の評価 | |||||
| 著者 |
Hashimoto, Yoshio
× Hashimoto, Yoshio |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 6348 | |||||
| 姓名 | 橋本, 佳男 | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 著者所属 | 東京大学大学院工学系研究科 電子工学専攻 | |||||
| 書誌情報 | 発行日 1993-03-29 | |||||
| 日本十進分類法 | ||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||
| 主題 | 549.8 | |||||
| 学位名 | ||||||
| 学位名 | 博士(工学) | |||||
| 学位 | ||||||
| 値 | doctoral | |||||
| 学位分野 | ||||||
| Engineering (工学) | ||||||
| 学位授与機関 | ||||||
| 学位授与機関名 | University of Tokyo (東京大学) | |||||
| 研究科・専攻 | ||||||
| Department of Electronic Engineering, Graduate School of Engineering (工学系研究科電子工学専攻) | ||||||
| 学位授与年月日 | ||||||
| 学位授与年月日 | 1993-03-29 | |||||
| 学位授与番号 | ||||||
| 学位授与番号 | 甲第9998号 | |||||
| 学位記番号 | ||||||
| 博工第3013号 | ||||||
