深部擾乱が誘発する巨大ソフトエラー現象に関する二光子吸収を用いた研究

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アイテムタイプ	学位論文 / Thesis or Dissertation
言語	日本語
その他のタイトル	A study on large soft error due to charge generated inside deep region investigated by using two-photon absorption
著者	井辻宏章
著者別名	Itsuji Hiroaki
著者所属	工学系研究科電気系工学専攻
内容記述	学位の種別: 課程博士審査委員会委員 : （主査）東京大学教授廣瀬和之, 東京大学教授杉山正和, 東京大学准教授喜多浩之, 東京大学教授高木信一, 東京大学准教授八井崇, 東京大学教授高橋琢二
発行年	2018-03-22
著者版フラグ	none
学位名	博士(工学)
学位	doctoral
学位授与機関	University of Tokyo(東京大学)
研究科・専攻	Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering (工学系研究科電気系工学専攻)
学位授与年月日	2018-03-22
学位授与番号	12601甲第34744号
学位記番号	博工第9268号