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特集11 : 酸化亜鉛パリスタの基本特性と性能評価
Electric Characteristics of ZnO Varistors
安達 芳夫
,
生駒 俊明
,
仁田山 晃寛
生産研究,33(6),251-254 (1981-06-01)
pdf
研究速報 : WO3薄膜のエレクトロクロミック効果
Electrochromic Effect in WO3 Thin Films
堀尾 和重
,
安達 芳夫
,
生駒 俊明
生産研究,31(8),631-634 (1979-08-01)
pdf
特集10 : ZnO 半導体の基礎的物性
Electrical Properties of ZnO Semiconductor
安達 芳夫
,
生駒 俊明
,
仁田山 晃寛
生産研究,31(3),196-199 (1979-03-01)
pdf
研究解説 : 化合物半導体の表面不活性化技術
Surface Passivation Techniques for Compound Semiconductors
横溝 氾
,
徳田 博邦
,
安達 芳夫
,
生駒 俊明
生産研究,29(8),413-421 (1977-08-01)
pdf
研究室紹介 : 安達研究室
安達 芳夫
生産研究,28(7),334-334 (1976-07-01)
pdf
研究速報 : GaxIn1-xSbの電子遷移効果特性
High Field Transport Properties of GaxIn1-xSb
堺 和夫
,
安達 芳夫
,
生駒 俊明
生産研究,27(9),387-389 (1975-09-01)
pdf
研究速報 : 極低温におけるMOS電界効果トランジスタの特性
MOS Field-Effect Transistors at Cryogenic Temperature.
宮川 尚憲
,
安達 芳夫
,
生駒 俊明
生産研究,27(2),91-97 (1975-02-01)
pdf
研究速報 : 熱刺激電流によるMNOSメモリーデバイスのトラップ準位の測定
Trap Centers in MNOS Memory Devices Measured by Thermally Stimulated Current
勝部 昭明
,
安達 芳夫
,
生駒 俊明
生産研究,25(12),535-538 (1973-12-01)
pdf
MOS形電界効果トランジスタの低周波雑音について
On Low Frequency Noise in MOS Field Effect Transistors
安達 芳夫
,
生駒 俊明
,
茅根 直樹
,
上村 幸守
生産研究,21(7),434-440 (1969-07-01)
pdf
研究速報 : MOS型電界効果トランジスタの低周波雑音について(第3報)
Low Frequency Noise in MOS type Field Effect Transistors
茅根 直樹
,
上村 幸守
,
安達 芳夫
生産研究,21(4),142-143 (1969-04-01)
pdf
研究速報 : 低温におけるMOS形電界効果トランジスタの異常雑音について(第2報)
On Abnormal Noise of MOS FET at Low Temperature
安達 芳夫
,
松下 孟史
,
上村 幸守
生産研究,20(10),515-516 (1968-10-01)
pdf
MOS形電界効果トランジスタの低周波雑音について(第1報)
Low Frequency Noise in MOS Field Effect Transistors
安達 芳夫
,
松下 孟史
,
上村 幸守
生産研究,20(6),300-302 (1968-06-01)
pdf
研究速報 : 金属-酸化物-半導体構造(MOSダイオード)の容量-電圧特性曲線に及ぼすバイアス・温度処理の影響
Eeffct of Bias-Temperature Treatments on C-V Characteristic Curves of Metal-Silicon Dioxide-Silicon Structures
堀内 重治
,
栗原 由紀子
,
安達 芳夫
生産研究,19(8),234-235 (1967-08-01)
pdf
MOS形FETの静特性に対するバルクバイアスの影響
Effect of Bulk Bias Voltage on the Static Characteristics of MOSFET
安達 芳夫
,
上村 幸守
生産研究,18(12),339-340 (1966-12-01)
pdf
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