2024-03-28T17:53:46Z
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/oai
oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00002161
2022-12-19T03:43:44Z
6:260:318
9:233:280
レーザラマン分光法による化合物半導体表面および界面の評価
江口, 和弘
549
レーザーラマン分光法
ラマン散乱
1986-03-29
jpn
thesis
https://doi.org/10.15083/00002155
http://hdl.handle.net/2261/1783
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/records/2161
10.15083/00002155
甲第7061号
工学博士
1986-03-29
University of Tokyo (東京大学)
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/2161/files/107061.pdf
application/pdf
16.0 MB
2017-05-31