2024-03-29T01:15:24Z
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/oai
oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00008074
2022-12-19T03:51:30Z
75:76:396
9:233:280
Precise Measurement of Nanometer Scale Electron Beam Sizes Using Laser Interference by Shintake Monitor
レーザー干渉型新竹モニターによるナノメートル電子ビームサイズの精密測定
Jacqueline, YAN
学位の種別: 課程博士
審査委員会委員 : (主査)東京大学教授 徳宿 克夫, 東京大学教授 牧島 一夫, 東京大学教授 坂本 宏, 東京大学准教授 川本 辰男, 東京大学准教授 山下 了
2015-03-24
eng
thesis
https://doi.org/10.15083/00008065
http://hdl.handle.net/2261/60180
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/records/8074
10.15083/00008065
12601甲第31317号
博士(理学)
2015-03-24
University of Tokyo(東京大学)
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/8074/files/A31317.pdf
application/pdf
13.2 MB
2017-06-27
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/8074/files/A31317_abstract.pdf
application/pdf
290.8 kB
2017-06-27
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/8074/files/A31317_review.pdf
application/pdf
81.5 kB
2017-06-27