2024-03-29T12:30:09Z
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/oai
oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00019375
2022-12-19T03:58:14Z
171:1108:1398:1404
9:504:1111:1400:1405
研究速報 : 80K相Bi系超伝導体中の転位の電顕解析
Transmission Electron Microscopic Analysis of Dislocations in 80K Bismuth Containing Superconductor
高橋, 裕
松崎, 順
森, 実
石田, 洋一
427
東京大学生産技術研究所
1989-09-01
jpn
departmental bulletin paper
http://hdl.handle.net/2261/42482
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/records/19375
AN00127075
0037105X
生産研究
41
9
701
704
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/19375/files/sk041009003.pdf
application/pdf
1.1 MB
2017-06-08