2024-03-28T10:11:35Z
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/oai
oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00019587
2022-12-19T03:58:24Z
171:1108:1422:1432
9:504:1111:1424:1433
研究速報 : 化学研磨法によるBi系超伝導体の電子顕微鏡試料作製法
Preparation of TEM Specimen by Chemical Etching in Bi-Sr-Ca-Cu-O Superconductors
高橋, 裕
森, 実
石田, 洋一
427
東京大学生産技術研究所
1988-08-01
jpn
departmental bulletin paper
http://hdl.handle.net/2261/40063
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/records/19587
AN00127075
0037105X
生産研究
40
8
374
377
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/19587/files/sk040008003.pdf
application/pdf
751.6 kB
2017-06-08