2024-03-29T11:24:04Z
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/oai
oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00019994
2022-12-19T03:58:46Z
171:1108:1500:1504
9:504:1111:1502:1505
特集7 : 研究解説 : 超音波顕微鏡の計測装置としての可能性
How the Scanning Acoustic Microscope can be used for the non-destructive inspections
仙波, 卓弥
530
特集 生産・加エシステムの最適化
東京大学生産技術研究所
1985-11-01
jpn
departmental bulletin paper
http://hdl.handle.net/2261/39177
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/records/19994
AN00127075
0037105X
生産研究
37
11
461
468
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/19994/files/sk037011009.pdf
application/pdf
821.2 kB
2017-06-08