2024-03-29T11:21:26Z
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/oai
oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00020199
2022-12-19T03:58:52Z
171:1108:1526:1546
9:504:1111:1528:1547
特集7 : 研究速報 : 走査電子顕微鏡(SEM)を用いた表面粗さ測定 : ディジタル方式による
Surfuce Roughness Measurement Using Scanning Electron Microscope : by Digital Method
佐藤, 壽芳
大堀, 真敬
500
特集 生産・加工システムの最適化
東京大学生産技術研究所
1984-02-01
jpn
departmental bulletin paper
http://hdl.handle.net/2261/38962
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/records/20199
AN00127075
0037105X
生産研究
36
2
86
89
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/20199/files/sk036002008.pdf
application/pdf
444.5 kB
2017-06-08