2024-03-29T00:44:41Z
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/oai
oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00021559
2022-12-19T03:59:37Z
171:1108:1802:1814
9:504:1111:1804:1815
研究解説 : 半導体中の深いエネルギー準位の不純物の測定
Determination of Electronic Properties of Deep Level Impurities in Semiconductor
堺, 和夫
生駒, 俊明
500
application/pdf
東京大学生産技術研究所
1973-07-01
jpn
departmental bulletin paper
http://hdl.handle.net/2261/34586
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/records/21559
AN00127075
0037105X
生産研究
25
7
278
287
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/21559/files/sk025007002.pdf
application/pdf
797.3 kB
2017-06-26