2024-03-29T11:20:10Z
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/oai
oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00052932
2022-12-19T04:29:42Z
6:209:392
9:233:280
固体誘電体の界面および内部における絶縁劣化現象
Electrical Insulation Degradation inside and at Interface of Dielectric Materials
中村, 隆央
学位の種別: 課程博士
審査委員会委員 : (主査)東京大学教授 日髙 邦彦, 東京大学教授 大崎 博之, 東京大学教授 古関 隆章, 東京大学教授 熊田 亜紀子, 東京大学准教授 井 通暁, 早稲田大学教授 大木 義路
2018-03-22
jpn
thesis
https://doi.org/10.15083/00078049
http://hdl.handle.net/2261/00078049
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/records/52932
10.15083/00078049
12601甲第34751号
博士(工学)
2018-03-22
University of Tokyo(東京大学)
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/52932/files/A34751_summary.pdf
application/pdf
144.4 kB
2019-09-19
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/52932/files/A34751_abstract.pdf
application/pdf
142.2 kB
2019-09-19
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/52932/files/A34751_review.pdf
application/pdf
107.6 kB
2019-09-19