2024-03-29T12:10:44Z
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/oai
oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00018618
2022-12-19T03:57:24Z
171:1108:1270:1271
9:504:1111:1272:1273
Step Height Measurement Using a Scanning Tunneling Microscope Equipped with a Crystalline Lattice Reference and Interferometer
特集16 : 研究速報 : 校正用光波干渉計を備えた結晶格子基準段差測定平行バネSTM
藤井, 透
32577
鈴木, 正敏
32578
樋口, 俊郎
32579
鴻上, 弘
32580
川勝, 英樹
32581
535
特集 プロダクションテクノロジー
departmental bulletin paper
東京大学生産技術研究所
1994-12
application/pdf
生産研究
12
46
682
685
AN00127075
0037105X
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/18618/files/sk046012017.pdf
jpn