@article{oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00019997,
 author = {佐藤, 壽芳 and 大堀, 真敬},
 issue = {11},
 journal = {生産研究},
 month = {Nov},
 note = {特集 生産・加エシステムの最適化},
 pages = {481--484},
 title = {特集10 : 研究速報 : 走査電子顕微鏡（SEM）による表面形状測定 : 法線検出法による},
 volume = {37},
 year = {1985}
}