@article{oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00020608,
 author = {佐藤, 壽芳 and 大堀, 真敬},
 issue = {11},
 journal = {生産研究},
 month = {Nov},
 note = {特集：生産・加工システムの最適化},
 pages = {530--532},
 title = {特集5 : 研究速報 : 走査電子顕微鏡(SEM)を用いた表面粗さ測定の基礎研究},
 volume = {32},
 year = {1980}
}