@article{oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00021498,
 author = {勝部, 昭明 and 安達, 芳夫 and 生駒, 俊明},
 issue = {12},
 journal = {生産研究},
 month = {Dec},
 note = {application/pdf},
 pages = {535--538},
 title = {研究速報 : 熱刺激電流によるMNOSメモリーデバイスのトラップ準位の測定},
 volume = {25},
 year = {1973}
}