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  1. 134 生産技術研究所
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  4. 4
  1. 0 資料タイプ別
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  3. 生産研究
  4. 21
  5. 4

NRZ形磁気ひずみ遅延線記憶装置

http://hdl.handle.net/2261/32149
5f5348a1-2fdf-40e1-9662-3bde948acaee
名前 / ファイル ライセンス アクション
sk021004002.pdf sk021004002.pdf (832.2 kB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2009-12-25
タイトル
タイトル NRZ形磁気ひずみ遅延線記憶装置
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
タイプ departmental bulletin paper
その他のタイトル
その他のタイトル A Magnetostrictive Delay Line Memory using a Non-Return-to-Zero Method of Operation
著者 高羽, 禎雄

× 高羽, 禎雄

WEKO 112955

高羽, 禎雄

Search repository
木下, 英実

× 木下, 英実

WEKO 112956

木下, 英実

Search repository
著者別名
識別子
識別子 112957
識別子Scheme WEKO
姓名
姓名 TAKABA, Sadao
著者別名
識別子
識別子 112958
識別子Scheme WEKO
姓名
姓名 KINOSHITA, Hidemi
著者所属
著者所属 東京大学生産技術研究所 第3部 電子管工学
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 磁気ひずみ遅延線記憶装置のアクセス・タイムを短縮する目的でNRZ形式を採用し,装置の設計,試作を行なった.動作安定度の点で問題となるパタン変動の影響を考慮するために記号間干渉の最悪値であるeye openingを遅延線のステップ電流応答波形から求める方法,ならびにその近似計算法を見出し,これを評価基準として,遅延線の選択条件,動作条件,周辺回路の設計条件を求め試作装置にこれを適用して良好な結果を得,この手法の妥当性をあきらかにした.
書誌情報 生産研究

巻 21, 号 4, p. 119-126, 発行日 1969-04-01
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0037105X
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN00127075
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 application/pdf
日本十進分類法
主題 500
主題Scheme NDC
出版者
出版者 東京大学生産技術研究所
出版者別名
Institute of Industrial Science. University of Tokyo
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Ver.1 2021-03-01 23:54:57.068849
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