@misc{oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00052241,
 author = {杉橋, 直行},
 month = {Sep},
 note = {学位の種別: 論文博士, 審査委員会委員 : （主査）東京大学教授 岸 利治, 東京大学教授 前川 宏一, 東京大学教授 野口 貴文, 東京大学教授 石田 哲也, 東京大学准教授 長井 宏平, 広島大学名誉教授 佐藤 良一, 山口大学教授 中村 秀明},
 title = {温度ひび割れ照査方法の変遷から見た現状の課題とその改善方法に関する研究},
 year = {2017}
}