@misc{oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00052932, author = {中村, 隆央}, month = {Mar}, note = {学位の種別: 課程博士, 審査委員会委員 : (主査)東京大学教授 日髙 邦彦, 東京大学教授 大崎 博之, 東京大学教授 古関 隆章, 東京大学教授 熊田 亜紀子, 東京大学准教授 井 通暁, 早稲田大学教授 大木 義路}, title = {固体誘電体の界面および内部における絶縁劣化現象}, year = {2018} }