@misc{oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00008234,
 author = {蔡, 偉立},
 month = {Mar},
 note = {学位の種別: 課程博士, 審査委員会委員 : (主査)東京大学教授 高木 信一, 東京大学教授 平川 一彦, 東京大学教授 平本 俊郎, 東京大学准教授 竹中 充, 東京大学准教授 小林 正治, 東京大学教授 鳥海 明},
 title = {Electrical characterization of strained and unstrained Si MOS interfaces and impact of interface defects on the device properties},
 year = {2015}
}