Investigations of Carrier Mobility Properties in Multiple Silicon Gate-All-Around Nanowire MOSFETs 利用統計を見る

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JaLC DOI	info:doi/10.15083/00002429
アイテムタイプ	学位論文 / Thesis or Dissertation
言語	英語
キーワード	nanowire, mobility
その他のタイトル	マルチシリコンナノワイヤトランジスタにおけるキャリア移動度特性に関する研究
著者	Chen Jiezhi
著者別名	陳杰智
著者所属	東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻
発行年	2009-09
日本十進分類法	549
学位名	博士(工学)
学位	doctoral
学位分野	Engineering (工学)
学位授与機関	University of Tokyo (東京大学)
研究科・専攻	Department of Electronic Engineering, Graduate School of Engineering (工学系研究科電子工学専攻)
学位授与年月日	2009-09-28
学位授与番号	甲第25308号
学位記番号	博工第7152号

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