WEKO3
アイテム
Investigations of Carrier Mobility Properties in Multiple Silicon Gate-All-Around Nanowire MOSFETs
https://doi.org/10.15083/00002429
https://doi.org/10.15083/000024298e3f7164-3c9e-4271-b98f-884fe592f083
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
37067267.pdf (1.7 MB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2012-03-01 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Investigations of Carrier Mobility Properties in Multiple Silicon Gate-All-Around Nanowire MOSFETs | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | nanowire | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | mobility | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
| タイプ | thesis | |||||
| ID登録 | ||||||
| ID登録 | 10.15083/00002429 | |||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | マルチシリコンナノワイヤトランジスタにおけるキャリア移動度特性に関する研究 | |||||
| 著者 |
Chen, Jiezhi
× Chen, Jiezhi |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 6705 | |||||
| 姓名 | 陳, 杰智 | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 著者所属 | 東京大学大学院工学系研究科 電子工学専攻 | |||||
| 書誌情報 | 発行日 2009-09 | |||||
| 日本十進分類法 | ||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||
| 主題 | 549 | |||||
| 学位名 | ||||||
| 学位名 | 博士(工学) | |||||
| 学位 | ||||||
| 値 | doctoral | |||||
| 学位分野 | ||||||
| Engineering (工学) | ||||||
| 学位授与機関 | ||||||
| 学位授与機関名 | University of Tokyo (東京大学) | |||||
| 研究科・専攻 | ||||||
| Department of Electronic Engineering, Graduate School of Engineering (工学系研究科電子工学専攻) | ||||||
| 学位授与年月日 | ||||||
| 学位授与年月日 | 2009-09-28 | |||||
| 学位授与番号 | ||||||
| 学位授与番号 | 甲第25308号 | |||||
| 学位記番号 | ||||||
| 博工第7152号 | ||||||
