WEKO3
アイテム
高分子界面の構造解析におけるX線散乱法の応用
http://hdl.handle.net/2261/20219
http://hdl.handle.net/2261/2021902989e5b-aa39-417f-8e53-4112cb0b711c
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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本文(fulltext) (5.9 MB)
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本文(fulltext) (7.3 MB)
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要旨(summary) (315.6 kB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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| 公開日 | 2011-08-08 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 高分子界面の構造解析におけるX線散乱法の応用 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
| タイプ | thesis | |||||
| 著者 |
神原, 一暁
× 神原, 一暁 |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 4852 | |||||
| 姓名 | Kamihara, Kazuaki | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 著者所属 | 東京大学大学院新領域創成科学研究科 基盤科学研究系 物質系専攻 | |||||
| 書誌情報 | 発行日 2008-03-24 | |||||
| 学位名 | ||||||
| 学位名 | 修士(科学) | |||||
| 学位 | ||||||
| 値 | master | |||||
| 研究科・専攻 | ||||||
| 新領域創成科学研究科物質系専攻 | ||||||
| 学位授与年月日 | ||||||
| 学位授与年月日 | 2008-03-24 | |||||
| 学位記番号 | ||||||
| 修創域第2370号 | ||||||
