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研究速報 : Monolithically Integrated Diode Laser Detection System for Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM) : Study of the Optical Feedback Effect in VCSELs
http://hdl.handle.net/2261/54983
http://hdl.handle.net/2261/54983a1a36420-f879-4551-8512-d51705e9a183
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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sk051008004.pdf (605.8 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2013-07-01 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 研究速報 : Monolithically Integrated Diode Laser Detection System for Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM) : Study of the Optical Feedback Effect in VCSELs | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| 著者 |
Khalfallah, Sabry
× Khalfallah, Sabry× Bouchon, Dominique× Fukuda, Satoshi× Gorecki, Christophe× Spager, Michel× Kawakatsu, Hideki× Fujita, Hiroyuki× Arakawa, Yasuhiko |
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| 著者所属 | ||||||
| 値 | 3rd Department, Institute of Industrial Science, University of Tokyo | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 値 | 2nd Department, Institute of Industrial Science, University of Tokyo | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 値 | Laboratoire d'Optique P.M.Duffieux, University of Besançon (France) | |||||
| 書誌情報 |
生産研究 巻 51, 号 8, p. 630-633, 発行日 1999-08 |
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| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 0037105X | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00127075 | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 東京大学生産技術研究所 | |||||
| 出版者別名 | ||||||
| 値 | Institute of Industrial Science, the University of Tokyo | |||||
