WEKO3
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研究速報 : Monolithically Integrated Diode Laser Detection System for Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM) : VCSEL Technology
http://hdl.handle.net/2261/54984
http://hdl.handle.net/2261/54984a91c91d7-e9d5-4733-9335-4f56aa634422
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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sk051008005.pdf (646.6 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2013-07-01 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 研究速報 : Monolithically Integrated Diode Laser Detection System for Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM) : VCSEL Technology | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| 著者 |
Khalfallah, Sabry
× Khalfallah, Sabry× Podlecki, Jean× Nishioka, Masao× Gorecki, Christophe× Kawakatsu, Hideki× Fujita, Hiroyuki× Someya, Takao× Arakawa, Yasuhiko |
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| 著者所属 | ||||||
| 値 | 3rd Department, Institute of Industrial Science, University of Tokyo | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 値 | 2nd Department, Institute of Industrial Science, University of Tokyo | |||||
| 書誌情報 |
生産研究 巻 51, 号 8, p. 634-637, 発行日 1999-08 |
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| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 0037105X | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00127075 | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 東京大学生産技術研究所 | |||||
| 出版者別名 | ||||||
| 値 | Institute of Industrial Science, the University of Tokyo | |||||
