WEKO3
アイテム
研究速報 : 全反射角X線分光法を用いた酸化物超伝導薄膜のin-situ組成分析
http://hdl.handle.net/2261/53313
http://hdl.handle.net/2261/53313f9bcd32a-6265-4e8c-8be7-7b35c23d8785
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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sk050003008.pdf (767.9 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2013-02-27 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 研究速報 : 全反射角X線分光法を用いた酸化物超伝導薄膜のin-situ組成分析 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | In-situ Chemical Analysis of Oxide Superconducting Films by Total-Reflection-Angle X-ray Spectroscopy | |||||
| 著者 |
亀井, 雅之
× 亀井, 雅之× 森下, 忠隆 |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 30325 | |||||
| 姓名 | Kamei, Masayuki | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 30326 | |||||
| 姓名 | Morishita, Tadataka | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 著者所属 | 東京大学生産技術研究所第4部 無機セラミック薄膜 | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 著者所属 | 超伝導工学研究所 超伝導薄膜 | |||||
| 書誌情報 |
生産研究 巻 50, 号 3, p. 155-158, 発行日 1998-03 |
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| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 0037105X | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00127075 | |||||
| 日本十進分類法 | ||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||
| 主題 | 549 | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 東京大学生産技術研究所 | |||||
| 出版者別名 | ||||||
| Institute of Industrial Science, the University of Tokyo | ||||||
