WEKO3
アイテム
Below-gap励起蛍光法によるSiCの結晶欠陥評価
http://hdl.handle.net/2261/28081
http://hdl.handle.net/2261/28081bfe8546a-65ef-4667-ae9e-82b2846cfe5e
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
isono.pdf (8.5 MB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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| 公開日 | 2011-08-08 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Below-gap励起蛍光法によるSiCの結晶欠陥評価 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
| タイプ | thesis | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | Characterization of Crystallite Defects in SiC by Below-Gap-Excitation Luminescence | |||||
| 著者 |
磯野, 秀明
× 磯野, 秀明 |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 5677 | |||||
| 姓名 | Isono, Hideaki | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 著者所属 | 東京大学大学院工学系研究科 電子工学専攻 | |||||
| 書誌情報 | 発行日 2009-03-23 | |||||
| 日本十進分類法 | ||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||
| 主題 | 549 | |||||
| 学位名 | ||||||
| 学位名 | 修士(工学) | |||||
| 学位 | ||||||
| 値 | master | |||||
| 研究科・専攻 | ||||||
| 工学系研究科電子工学専攻 | ||||||
| 学位授与年月日 | ||||||
| 学位授与年月日 | 2009-03-23 | |||||
