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特集2 : 研究解説 : プロトン交換ニオブ酸リチウム光導波路およびイオン交換KTP光導波路の光損傷耐性
http://hdl.handle.net/2261/49267
http://hdl.handle.net/2261/4926733abe749-0695-4893-9772-68a8b4e036cf
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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sk045005003.pdf (422.8 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2012-11-15 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 特集2 : 研究解説 : プロトン交換ニオブ酸リチウム光導波路およびイオン交換KTP光導波路の光損傷耐性 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | Photorefractive Sensitivity of the Proton-exchanged LN Optical Waveguides and the Ion-exchanged KTP Optical Waveguides | |||||
| 著者 |
近藤, 由紀子
× 近藤, 由紀子× 岡田, 恵子× 藤井, 陽一 |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 33707 | |||||
| 姓名 | KONDO, Yukiko | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 33708 | |||||
| 姓名 | OKADA, Keiko | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 33709 | |||||
| 姓名 | FUJII, Yoichi | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 値 | 東京大学生産技術研究所第3部 応用電子工学 | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 値 | 東京大学生産技術研究所第3部（HOYA材料研究所） 化学 | |||||
| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | コヒーレントな短波長を得るためのSHG素子の有望な材料であるニオブ酸リチウムのプロトン交換光導波路，およびKTP結晶のRbイオン交換光導波路の光損傷感度を定量的に測定した．プロトン交換導波路は，アニール無しの場合，Ti拡散導波路よりも約10^4倍光損傷に強いが，アニールにより光損傷に対する耐性は減少する．KTP光導波路は350℃で数時間アニールしたプロトン交換導波路とほぼ同程度の光損傷耐性を持つ． | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 小特集 光デバイス・光工学 | |||||
| 書誌情報 |
生産研究 巻 45, 号 5, p. 322-325, 発行日 1993-05-01 |
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| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 0037105X | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00127075 | |||||
| 日本十進分類法 | ||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||
| 主題 | 549 | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 東京大学生産技術研究所 | |||||
| 出版者別名 | ||||||
| 値 | Institute of Industrial Science, the University of Tokyo | |||||
