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  1. 113 工学系研究科・工学部
  2. 21 電子工学専攻
  3. 1132225 修士論文(電子工学専攻)
  1. 0 資料タイプ別
  2. 20 学位論文
  3. 025 修士論文

フォトルミネッセンス法によるシリコン結晶の高濃度不純物定量に関する研究

http://hdl.handle.net/2261/29063
http://hdl.handle.net/2261/29063
24352680-aff7-4bf8-8a05-81d20fc71a02
名前 / ファイル ライセンス アクション
37066460.pdf 37066460.pdf (2.1 MB)
Item type 学位論文 / Thesis or Dissertation(1)
公開日 2011-08-08
タイトル
タイトル フォトルミネッセンス法によるシリコン結晶の高濃度不純物定量に関する研究
言語
言語 jpn
キーワード
主題Scheme Other
主題 フォトルミネッセンス
キーワード
主題Scheme Other
主題 Si
キーワード
主題Scheme Other
主題 PL
キーワード
主題Scheme Other
主題 定量
資源タイプ
資源 http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec
タイプ thesis
その他のタイトル
その他のタイトル Study on the Photoluminescence Method for Quantitative Analysis of High Concentration of Impurities in Si
著者 荻原, 崇

× 荻原, 崇

WEKO 5790

荻原, 崇

Search repository
著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 5791
姓名 オギハラ, タカシ
著者所属
著者所属 東京大学大学院工学系研究科 電子工学専攻
著者所属
著者所属 Department of Electronic Engineering, The University of Tokyo
書誌情報 発行日 2008-03-24
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 549
学位名
学位名 修士(工学)
学位
値 master
研究科・専攻
工学系研究科電子工学専攻
学位授与年月日
学位授与年月日 2008-03-24
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Ver.1 2021-03-02 08:11:37.252860
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