WEKO3
アイテム / Physics of soft error due to radiation-induced noise under the buried oxide layer in SOI devices / A35430_abstract
A35430_abstract
ファイル | ライセンス |
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A35430_abstract.pdf (479.3 kB) sha256 6259269376c101dad41263d99bd52e9d4e4bf1a22b75228c039cdd44920c89d8 |
公開日 | 2021-09-08 | |||||
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ファイル名 | A35430_abstract.pdf | |||||
本文URL | https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/2001577/files/A35430_abstract.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | abstract | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 468.1KB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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