WEKO3
アイテム
SOIデバイス埋め込み酸化膜下で発生したノイズに起因するソフトエラーの物理
https://doi.org/10.15083/0002001577
https://doi.org/10.15083/0002001577744da2fd-aae6-46f3-bcbc-80f2f0830a87
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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A35430.pdf (1.6MB)
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A35430_abstract.pdf (468.1KB)
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A35430_review.pdf (72.6KB)
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Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||||||
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公開日 | 2021-09-08 | |||||||||
タイトル | ||||||||||
タイトル | Physics of soft error due to radiation-induced noise under the buried oxide layer in SOI devices | |||||||||
言語 | en | |||||||||
タイトル | ||||||||||
タイトル | SOIデバイス埋め込み酸化膜下で発生したノイズに起因するソフトエラーの物理 | |||||||||
言語 | ja | |||||||||
言語 | ||||||||||
言語 | eng | |||||||||
資源タイプ | ||||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_db06 | |||||||||
資源タイプ | doctoral thesis | |||||||||
ID登録 | ||||||||||
ID登録 | 10.15083/0002001577 | |||||||||
ID登録タイプ | JaLC | |||||||||
アクセス権 | ||||||||||
アクセス権 | open access | |||||||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||||||
著者 |
CHUNG, CHIN-HAN
× CHUNG, CHIN-HAN
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著者所属 | ||||||||||
言語 | ja | |||||||||
値 | 工学系研究科電気系工学専攻 | |||||||||
内容記述 | ||||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||||
内容記述 | 学位の種別: 課程博士 | |||||||||
言語 | ja | |||||||||
内容記述 | ||||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||||
内容記述 | 審査委員会委員 : (主査)東京大学教授 廣瀬 和之, (副査)東京大学准教授 小林 正治, 東京大学教授 高橋 琢二, 東京大学教授 杉山 正和, 東京大学准教授 八井 崇, 東京大学准教授 喜多 浩之 | |||||||||
言語 | ja | |||||||||
書誌情報 |
発行日 2018-09-14 |
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学位名 | ||||||||||
言語 | ja | |||||||||
学位名 | 博士(工学) | |||||||||
学位授与機関 | ||||||||||
学位授与機関識別子Scheme | kakenhi | |||||||||
学位授与機関識別子 | 12601 | |||||||||
言語 | ja | |||||||||
学位授与機関名 | 東京大学 | |||||||||
言語 | en | |||||||||
学位授与機関名 | The University of Tokyo | |||||||||
研究科・専攻 | ||||||||||
値 | Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering (工学系研究科電気系工学専攻) | |||||||||
学位授与年月日 | ||||||||||
学位授与年月日 | 2018-09-14 | |||||||||
学位授与番号 | ||||||||||
学位授与番号 | 甲第35430号 | |||||||||
学位記番号 | ||||||||||
言語 | ja | |||||||||
値 | 博工第9436号 | |||||||||
出版タイプ | ||||||||||
出版タイプ | VoR |