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アイテム / Physics of soft error due to radiation-induced noise under the buried oxide layer in SOI devices / A35430_review
A35430_review
ファイル | ライセンス |
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A35430_review.pdf (74.4 kB) sha256 76d89c8586f8eda32d340f419ced212baedbf6c59e91c4a5f929f8beeb66fc95 |
公開日 | 2021-09-08 | |||||
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ファイル名 | A35430_review.pdf | |||||
本文URL | https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/2001577/files/A35430_review.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | other | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 72.6KB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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