ログイン
言語:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 113 工学系研究科・工学部
  2. 15 精密工学専攻
  3. 1131520 博士論文(精密工学専攻)
  1. 0 資料タイプ別
  2. 20 学位論文
  3. 021 博士論文

光コムパルス干渉を用いた高精度長さセンシング技術に関する研究

https://doi.org/10.15083/0002011394
https://doi.org/10.15083/0002011394
f1fbadb3-c6ee-474a-b9e8-8111db29925c
名前 / ファイル ライセンス アクション
A40222.pdf A40222.pdf (11.2MB)
A40222_abstract.pdf A40222_abstract.pdf (216.5KB)
A40222_review.pdf A40222_review.pdf (155.8KB)
Item type 学位論文 / Thesis or Dissertation(1)
公開日 2025-03-27
タイトル
タイトル 光コムパルス干渉を用いた高精度長さセンシング技術に関する研究
言語 ja
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源 http://purl.org/coar/resource_type/c_db06
タイプ doctoral thesis
ID登録
ID登録 10.15083/0002011394
ID登録タイプ JaLC
アクセス権
アクセス権 open access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
著者 増田, 秀征

× 増田, 秀征

ja 増田, 秀征
東京大学

Search repository
著者別名
姓名 MASUDA, SHUSEI
言語 en
所属機関名 The University of Tokyo
言語 en
著者所属
言語 ja
著者所属 工学系研究科精密工学専攻
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 学位の種別: 課程博士|審査委員会委員 : (主査)東京大学教授 高橋 哲, 東京大学教授 神保 泰彦, 東京大学教授 三村 秀和, 東京大学准教授 道畑 正岐, 産総研博士 平井 亜紀子
言語 ja
bibliographic_information
発行日 2023-03-23
学位名
言語 ja
学位名 博士(工学)
学位授与機関
学位授与機関識別子Scheme kakenhi
学位授与機関識別子 12601
言語 ja
学位授与機関名 東京大学
言語 en
学位授与機関名 The University of Tokyo
item_7_text_24
Department of Precision Engineering, Graduate School of Engineering (工学系研究科精密工学専攻)
学位授与年月日
学位授与年月日 2023-03-23
dissertation_number
学位授与番号 甲第40222号
item_7_text_27
ja
博工第10564号
出版タイプ
出版タイプ VoR
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2025-03-27 12:43:18.595738
Show All versions

Share

Mendeley Twitter Facebook Print Addthis

Cite as

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX

Confirm


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3