WEKO3
アイテム
Structural Analysis of Silicene by Atomic Force Microscopy
https://doi.org/10.15083/0002011902
https://doi.org/10.15083/000201190221269a83-01fa-4b7e-b9f8-24c1e90a1c3f
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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A40630.pdf (25.5MB)
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A40630_abstract.pdf (443.2KB)
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A40630_review.pdf (100 KB)
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| アイテムタイプ | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2025-03-27 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | Structural Analysis of Silicene by Atomic Force Microscopy | |||||||
| 言語 | en | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | eng | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_db06 | |||||||
| タイプ | doctoral thesis | |||||||
| ID登録 | ||||||||
| ID登録 | 10.15083/0002011902 | |||||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||||
| アクセス権 | ||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||||
| その他のタイトル | ||||||||
| その他のタイトル | 原子間力顕微鏡を用いたシリセンの構造解析 | |||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 著者 |
馮, 凌瑜
× 馮, 凌瑜
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| 著者別名 | ||||||||
| 姓名 | FENG, Lingyu | |||||||
| 言語 | en | |||||||
| 所属機関名 | The University of Tokyo | |||||||
| 言語 | en | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 著者所属 | 新領域創成科学研究科物質系専攻 | |||||||
| 内容記述 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 学位の種別: 課程博士|審査委員会委員 : （主査）東京大学教授 杉本 宜昭, 東京大学教授 吉信 淳, 東京大学教授 尾崎 泰助, 北陸先端科学技術大学院大学教授 高村 由起子, 東京大学准教授 細野 暢彦 | |||||||
| 言語 | ja | |||||||
| bibliographic_information |
発行日 2023-03-23 |
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| 学位名 | ||||||||
| 学位名 | 博士(科学) | |||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 学位授与機関 | ||||||||
| 学位授与機関識別子Scheme | kakenhi | |||||||
| 学位授与機関識別子 | 12601 | |||||||
| 学位授与機関名 | 東京大学 | |||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 学位授与機関名 | The University of Tokyo | |||||||
| 言語 | en | |||||||
| item_7_text_24 | ||||||||
| Department of Advanced Materials Science, Graduate School of Frontier Sciences (新領域創成科学研究科物質系専攻) | ||||||||
| 学位授与年月日 | ||||||||
| 学位授与年月日 | 2023-03-23 | |||||||
| dissertation_number | ||||||||
| 学位授与番号 | 甲第40630号 | |||||||
| item_7_text_27 | ||||||||
| ja | ||||||||
| 博創域第1966号 | ||||||||
| 出版タイプ | ||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||
