WEKO3
アイテム
Characterization and understanding of subthreshold swing of Si MOSFETs at cryogenic temperatures
https://doi.org/10.15083/0002012273
https://doi.org/10.15083/000201227359dd64af-7631-483e-89fe-17d88f1ed855
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||||
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公開日 | 2025-03-28 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | Characterization and understanding of subthreshold swing of Si MOSFETs at cryogenic temperatures | |||||||
言語 | en | |||||||
言語 | ||||||||
言語 | eng | |||||||
資源タイプ | ||||||||
資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_db06 | |||||||
タイプ | doctoral thesis | |||||||
ID登録 | ||||||||
ID登録 | 10.15083/0002012273 | |||||||
ID登録タイプ | JaLC | |||||||
アクセス権 | ||||||||
アクセス権 | open access | |||||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||||
その他のタイトル | ||||||||
その他のタイトル | 極低温でのSi MOSFETのサブスレショルド・スイングの評価と理解 | |||||||
言語 | ja | |||||||
著者 |
姜, 旼秀
× 姜, 旼秀
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著者別名 | ||||||||
姓名 | KANG, MINSOO | |||||||
言語 | en | |||||||
所属機関名 | The University of Tokyo | |||||||
言語 | en | |||||||
著者所属 | ||||||||
言語 | ja | |||||||
著者所属 | 工学系研究科電気系工学専攻 | |||||||
内容記述 | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | 学位の種別:課程博士|審査委員会委員 : (主査)東京大学教授 高木 信一, 東京大学教授 平本 俊郎, 東京大学教授 竹中 充, 東京大学准教授 小林 正治, 東京大学教授 内田 建 | |||||||
言語 | ja | |||||||
bibliographic_information |
発行日 2023-09-22 |
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学位名 | ||||||||
言語 | ja | |||||||
学位名 | 博士(工学) | |||||||
学位授与機関 | ||||||||
学位授与機関識別子Scheme | kakenhi | |||||||
学位授与機関識別子 | 12601 | |||||||
言語 | ja | |||||||
学位授与機関名 | 東京大学 | |||||||
言語 | en | |||||||
学位授与機関名 | The University of Tokyo | |||||||
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ja | ||||||||
Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering(工学系研究科電気系工学専攻) | ||||||||
学位授与年月日 | ||||||||
学位授与年月日 | 2023-09-22 | |||||||
dissertation_number | ||||||||
学位授与番号 | 甲第40925号 | |||||||
item_7_text_27 | ||||||||
ja | ||||||||
博工第10749号 |