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One fine body…

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アイテム / 4H-SiC MOSFETの反転層における電子移動度評価とキャリア散乱機構モデルの研究 / B18854_review

B18854_review


B18854_review.pdf
81ea451f-4bdc-4f12-bd76-777a88f62530
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/2012391/files/B18854_review.pdf
ファイル ライセンス
B18854_review.pdf/B18854_review.pdf (198.4 kB) sha256 3ac17fef86402f7d5495db26dba970ae23b464eb2bd6ac8ca78ac6ac41dba2bd
ファイル名 B18854_review.pdf
本文URL https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/2012391/files/B18854_review.pdf
オブジェクトタイプ other
フォーマット application/pdf
サイズ 193.8KB
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