WEKO3
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研究速報 : Ⅹ線光電子回折法（ⅩPED）によるAu/GaAs（001）界面のキャラクタリゼーション
http://hdl.handle.net/2261/39015
http://hdl.handle.net/2261/39015f66709cd-d5ac-44d5-a59f-d3c808902209
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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sk036007009.pdf (172.6 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2010-12-06 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 研究速報 : Ⅹ線光電子回折法（ⅩPED）によるAu/GaAs（001）界面のキャラクタリゼーション | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | Characterization of Au/GaAs ( 001 ) Interface by X-Ray Photoelectron Diffraction (XPED) | |||||
| 著者 |
簡, 佩薫
× 簡, 佩薫× 尾張, 真則× 工藤, 正博× 二瓶, 好正 |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 39409 | |||||
| 姓名 | JIEN, PeiXun | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 39410 | |||||
| 姓名 | OWARI, Masanori | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 39411 | |||||
| 姓名 | KUDO, Masahiro | |||||
| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 39412 | |||||
| 姓名 | NIHEI, Yoshimasa | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 著者所属 | 中国科学院物理学研究所 | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 著者所属 | 東京大学生産技術研究所第5部 物質情報工学、環境計測化学 | |||||
| 書誌情報 |
生産研究 巻 36, 号 7, p. 333-335, 発行日 1984-07-01 |
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| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 0037105X | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00127075 | |||||
| 日本十進分類法 | ||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||
| 主題 | 500 | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 東京大学生産技術研究所 | |||||
| 出版者別名 | ||||||
| Institute of Industrial Science, the University of Tokyo | ||||||
