WEKO3
アイテム
レーザラマン分光法による化合物半導体表面および界面の評価
https://doi.org/10.15083/00002155
https://doi.org/10.15083/00002155d2f87ba5-9299-4796-b0c1-7f8b58496d8c
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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公開日 | 2012-02-29 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | レーザラマン分光法による化合物半導体表面および界面の評価 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
キーワード | ||||||
主題 | レーザーラマン分光法 | |||||
主題Scheme | Other | |||||
キーワード | ||||||
主題 | ラマン散乱 | |||||
主題Scheme | Other | |||||
資源タイプ | ||||||
資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
タイプ | thesis | |||||
ID登録 | ||||||
ID登録 | 10.15083/00002155 | |||||
ID登録タイプ | JaLC | |||||
著者 |
江口, 和弘
× 江口, 和弘 |
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著者別名 | ||||||
識別子 | 6225 | |||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
姓名 | Eguchi, Kazuhiro | |||||
著者所属 | ||||||
著者所属 | 東京大学大学院工学系研究科 電子工学専攻 | |||||
書誌情報 | 発行日 1986-03-29 | |||||
日本十進分類法 | ||||||
主題 | 549 | |||||
主題Scheme | NDC | |||||
学位名 | ||||||
学位名 | 工学博士 | |||||
学位 | ||||||
値 | doctoral | |||||
学位分野 | ||||||
Engineering (工学) | ||||||
学位授与機関 | ||||||
学位授与機関名 | University of Tokyo (東京大学) | |||||
研究科・専攻 | ||||||
Department of Electronic Engineering, Graduate School of Engineering (工学系研究科電子工学専攻) | ||||||
学位授与年月日 | ||||||
学位授与年月日 | 1986-03-29 | |||||
学位授与番号 | ||||||
学位授与番号 | 甲第7061号 | |||||
学位記番号 | ||||||
博工第2001号 |