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  1. 131 地震研究所
  2. 東京大学地震研究所彙報
  3. 90
  4. 1-4
  1. 0 資料タイプ別
  2. 30 紀要・部局刊行物
  3. 東京大学地震研究所彙報
  4. 90
  5. 1-4

ガラスビード法による蛍光X線分析装置(XRF)を用いた珪酸塩岩石の主・微量成分分析

https://doi.org/10.15083/0000032410
https://doi.org/10.15083/0000032410
b393b2a8-1894-47f8-8090-7ca638210c50
名前 / ファイル ライセンス アクション
IHO90101.pdf IHO90101.pdf (1.9MB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2016-06-15
タイトル
タイトル ガラスビード法による蛍光X線分析装置(XRF)を用いた珪酸塩岩石の主・微量成分分析
言語 ja
言語
言語 jpn
キーワード
主題Scheme Other
主題 X-ray Fluorescence Spectrometer
キーワード
主題Scheme Other
主題 1 : 5 dilution glass bead
キーワード
主題Scheme Other
主題 silicate rocks
キーワード
主題Scheme Other
主題 major and trace element analysis
資源タイプ
資源 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
タイプ departmental bulletin paper
ID登録
ID登録 10.15083/0000032410
ID登録タイプ JaLC
その他のタイトル
その他のタイトル Major and Trace Element Analysis of Silicate Rocks using Fused Glass Beads with an X-ray Fluorescence Spectrometer
著者 外西, 奈津美

× 外西, 奈津美

WEKO 72478

外西, 奈津美

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安田, 敦

× 安田, 敦

WEKO 72479

安田, 敦

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中田, 節也

× 中田, 節也

WEKO 72480

中田, 節也

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著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 72481
姓名 Hokanishi, Natsumi
著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 72482
姓名 Yasuda, Atsushi
著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 72483
姓名 Nakada, Setsuya
著者所属
著者所属 東京大学地震研究所
著者所属
著者所属 東京大学地震研究所
著者所属
著者所属 東京大学地震研究所
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Quantitative analytical method was established for X-ray Fluorescence Spectrometer (XRF) using a fused glass bead of silicate rock powder diluted with lithium-tetraborate at a ratio of 1 : 5. It takes approximately 80 minutes to measure 10 major and 18 trace elements on one glass bead. Calibration lines constructed with 26 reference rock standards provide good accuracy and precision for elements with the exception of La. To confirm the quality of this analytical method, four reference rock standards (JA-2, JB-1 a, JG-1 a, and JR-2), which are not used for constructing the calibration lines, are measured as unknown samples. The analytical results agree well with recommended values. The stability of the instrument is evaluated by repeating measurements of the glass beads, JB-1 a and JG-1 a. The standard deviation of the results of 10 repeated measurements reveals fluctuations were below 0.02 wt. % for all major elements except SiO2. The standard deviation for SiO2 is slightly higher, i.e. 0.09- 0.12 wt. %, but the coefficient of variation for SiO2 is 0. 2%, which is small compared to other major elements. Analytical results for trace elements of the four reference rock standards agree well with their reported values, with the exception of Ba. Low precision and stability of Ba measurement derive from low X-ray intensity (L-spectrum) of Ba at the analytical conditions applied.
書誌情報 東京大學地震研究所彙報 = Bulletin of the Earthquake Research Institute, University of Tokyo

巻 90, 号 1-4, p. 1-14, 発行日 2016
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 00408972
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN00162258
出版者
出版者 東京大学地震研究所
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Ver.1 2021-03-02 02:53:12.887990
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