WEKO3
アイテム
Real-time Measurement of DNA Degradation by Silicon Nanotweezers Coupled with Microfluidic Cavity : Effect of Radiation Damage and Restriction Enzyme Digestion
http://hdl.handle.net/2261/56583
http://hdl.handle.net/2261/56583d2b37368-30c2-4375-8573-0989aae43e9f
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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37126893.pdf (3.3 MB)
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Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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公開日 | 2015-03-30 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | Real-time Measurement of DNA Degradation by Silicon Nanotweezers Coupled with Microfluidic Cavity : Effect of Radiation Damage and Restriction Enzyme Digestion | |||||
言語 | ||||||
言語 | eng | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
資源タイプ | thesis | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | シリコンナノピンセットとMicrofluidic デバイスによるDNA損傷のリアルタイム測定 : 放射線損傷と制限酵素切断の影響 | |||||
著者 |
Chiang, Po-Tsun
× Chiang, Po-Tsun |
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著者別名 | ||||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
識別子 | 12109 | |||||
姓名 | 江, 柏村 | |||||
著者所属 | ||||||
値 | 東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻 | |||||
著者所属 | ||||||
値 | Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering, The University of Tokyo | |||||
書誌情報 | 発行日 2014-03-24 | |||||
学位名 | ||||||
学位名 | 修士(工学) | |||||
学位 | ||||||
値 | master | |||||
研究科・専攻 | ||||||
値 | 工学系研究科・電気系工学専攻 | |||||
学位授与年月日 | ||||||
学位授与年月日 | 2014-03-24 |