WEKO3
アイテム
Terahertz spectroscopy of high density electron and hole systems in Si and Ge under the magnetic field and uniaxial stress
https://doi.org/10.15083/00006634
https://doi.org/10.15083/00006634e9e1c72f-9126-4b0c-9936-453915dce2ce
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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A30148.pdf (3.4 MB)
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A30148_abstract.pdf (213.1 kB)
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A30148_review.pdf (255.8 kB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2015-08-27 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Terahertz spectroscopy of high density electron and hole systems in Si and Ge under the magnetic field and uniaxial stress | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_db06 | |||||
| タイプ | doctoral thesis | |||||
| ID登録 | ||||||
| ID登録 | 10.15083/00006634 | |||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | テラヘルツ分光法による磁場下一軸性圧力下におけるSiおよびGeの高密度電子正孔系の研究 | |||||
| 著者 |
柳, 済允
× 柳, 済允 |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 13566 | |||||
| 姓名 | YOO, JEYOON | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 著者所属 | 理学系研究科物理学専攻 | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 学位の種別:課程博士 | |||||
| 言語 | ja | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 審査委員会委員 : （主査）東京大学准教授 岡本 徹, 東京大学教授 常行 真司, 東京大学教授 末元 徹, 東京大学准教授 秋山 英文, 東京大学准教授 溝川 貴司 | |||||
| 言語 | ja | |||||
| 書誌情報 |
発行日 2014-03-24 |
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| 著者版フラグ | ||||||
| 値 | ETD | |||||
| 学位名 | ||||||
| 言語 | ja | |||||
| 学位名 | 博士(理学) | |||||
| 学位 | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 値 | doctoral | |||||
| 学位授与機関 | ||||||
| 学位授与機関識別子Scheme | kakenhi | |||||
| 学位授与機関識別子 | 12601 | |||||
| 言語 | ja | |||||
| 学位授与機関名 | 東京大学 | |||||
| 言語 | en | |||||
| 学位授与機関名 | University of Tokyo | |||||
| 研究科・専攻 | ||||||
| Department of Physics, Graduate School of Science (理学系研究科物理学専攻) | ||||||
| 学位授与年月日 | ||||||
| 学位授与年月日 | 2014-03-24 | |||||
| 学位授与番号 | ||||||
| 学位授与番号 | 甲第30148号 | |||||
| 学位記番号 | ||||||
| ja | ||||||
| 博理第6064号 | ||||||
