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  1. 134 生産技術研究所
  2. 生産研究
  3. 46
  4. 3
  1. 0 資料タイプ別
  2. 30 紀要・部局刊行物
  3. 生産研究
  4. 46
  5. 3

特集2 : 研究解説 : Transient of Electrostatic Potential at GaAs/AlAs Heterointerfaces Characterized by X-Ray Photoemission Spectroscopy

http://hdl.handle.net/2261/49918
http://hdl.handle.net/2261/49918
b4be7a86-a975-4556-9019-83ab69eadade
名前 / ファイル ライセンス アクション
sk046003003.pdf sk046003003.pdf (541.7 kB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2012-11-16
タイトル
タイトル 特集2 : 研究解説 : Transient of Electrostatic Potential at GaAs/AlAs Heterointerfaces Characterized by X-Ray Photoemission Spectroscopy
言語
言語 eng
資源タイプ
資源 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
タイプ departmental bulletin paper
その他のタイトル
その他のタイトル XPS法によるGaAs/AlAsヘテロ界面における遷移領域の評価
著者 HIRAKAWA, Kazuhiko

× HIRAKAWA, Kazuhiko

WEKO 32951

HIRAKAWA, Kazuhiko

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HASHIMOTO, Yoshio

× HASHIMOTO, Yoshio

WEKO 32952

HASHIMOTO, Yoshio

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IKOMA, Toshiaki

× IKOMA, Toshiaki

WEKO 32953

IKOMA, Toshiaki

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著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 32954
姓名 平川, 一彦
著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 32955
姓名 橋本, 佳男
著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 32956
姓名 生駒, 俊明
著者所属
著者所属 Center for Function Oriented Electronics, Institute of Industrial Science, University of Tokyo 電子工学
著者所属
著者所属 Deaprtment of Electrical and Electronic Engineering, Shinsyu University 電子工学
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 We systematically studied the Ga3d and Al2p cation core level binding energies in molecular beam epitaxially grown GaAs/AlAs heterostructures by in-situ x-ray photoemission spectroscopy. The valence band offset ΔEv at GaAs/AlAs interface is found to be 0.44±0.55 eV. Furthermore, we found that the cation core level binding energies in the extreme vicinity of the interface are shifted by ~0.1 eV from their respective bulk values, which clearly indicates that the charge distribution and the resulting band offsets have a transient over a distance of at least ±2 monolayers from the heterointerface.
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 小特集 機能エレクトロニクス研究センター
書誌情報 生産研究

巻 46, 号 3, p. 160-164, 発行日 1994-03
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0037105X
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN00127075
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 428
出版者
出版者 東京大学生産技術研究所
出版者別名
Institute of Industrial Science, the University of Tokyo
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Ver.1 2021-03-02 04:36:40.601975
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