WEKO3
アイテム
薄膜SOI MOSFETのデバイスパラメータ最適設計のためのモデリングと抽出方法に関する研究
https://doi.org/10.11501/3162751
https://doi.org/10.11501/316275129dc0edf-e90f-4b21-b184-0a2690e335d0
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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114235.pdf (9.4 MB)
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Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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公開日 | 2017-01-13 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 薄膜SOI MOSFETのデバイスパラメータ最適設計のためのモデリングと抽出方法に関する研究 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 薄膜電界効果トランジスタ | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 電気的特性パラメータ | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | デバイス構造パラメータ | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 抽出方法 | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
資源タイプ | thesis | |||||
ID登録 | ||||||
ID登録 | 10.11501/3162751 | |||||
ID登録タイプ | JaLC | |||||
著者 |
伊藤, 浩
× 伊藤, 浩 |
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著者別名 | ||||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
識別子 | 17655 | |||||
姓名 | Ito, Hiroshi | |||||
書誌情報 | 発行日 1999-03-29 | |||||
日本十進分類法 | ||||||
主題Scheme | NDC | |||||
主題 | 549.6 | |||||
学位名 | ||||||
学位名 | 博士(工学) | |||||
学位 | ||||||
値 | doctoral | |||||
学位分野 | ||||||
値 | Engineering (工学) | |||||
学位授与機関 | ||||||
学位授与機関名 | University of Tokyo (東京大学) | |||||
研究科・専攻 | ||||||
値 | Department of Information and Communication Engineering, Graduate School of Engineering (工学系研究科電子情報工学専攻) | |||||
学位授与年月日 | ||||||
学位授与年月日 | 1999-03-29 | |||||
学位授与番号 | ||||||
学位授与番号 | 甲第14235号 | |||||
学位記番号 | ||||||
値 | 博工第4361号 |