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  1. 113 工学系研究科・工学部
  2. 22 電気系工学専攻
  3. 1132225 修士論文(電気系工学専攻)
  1. 0 資料タイプ別
  2. 20 学位論文
  3. 025 修士論文

MOVPE法における新規in situパッシベーションの開発によるn-GaAs MOSの界面準位低減

http://hdl.handle.net/2261/43536
http://hdl.handle.net/2261/43536
fb218b0a-e938-4ad4-a1bf-525703f32c3d
名前 / ファイル ライセンス アクション
37086499.pdf 37086499.pdf (11.4 MB)
Item type 学位論文 / Thesis or Dissertation(1)
公開日 2011-08-08
タイトル
タイトル MOVPE法における新規in situパッシベーションの開発によるn-GaAs MOSの界面準位低減
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源 http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec
タイプ thesis
その他のタイトル
その他のタイトル Suppression of n-GaAs MOS interface state density by the development of novel in situ passivation with MOVPE
著者 寺田, 雄紀

× 寺田, 雄紀

WEKO 5863

寺田, 雄紀

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著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 5864
姓名 Terada, Yuki
著者所属
著者所属 東京大学大学院工学系研究科 電気系工学専攻
書誌情報 発行日 2010-03-24
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 540
学位名
学位名 修士(工学)
学位
値 master
研究科・専攻
工学系研究科電気系工学専攻
学位授与年月日
学位授与年月日 2010-03-24
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Ver.1 2021-03-01 20:16:17.579871
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