WEKO3
アイテム
{"_buckets": {"deposit": "d15fc303-8752-41a2-8fee-84d157ab6b0b"}, "_deposit": {"id": "20199", "owners": [], "pid": {"revision_id": 0, "type": "depid", "value": "20199"}, "status": "published"}, "_oai": {"id": "oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00020199", "sets": ["1546", "1547"]}, "item_4_alternative_title_1": {"attribute_name": "その他のタイトル", "attribute_value_mlt": [{"subitem_alternative_title": "Surfuce Roughness Measurement Using Scanning Electron Microscope : by Digital Method"}]}, "item_4_biblio_info_7": {"attribute_name": "書誌情報", "attribute_value_mlt": [{"bibliographicIssueDates": {"bibliographicIssueDate": "1984-02-01", "bibliographicIssueDateType": "Issued"}, "bibliographicIssueNumber": "2", "bibliographicPageEnd": "89", "bibliographicPageStart": "86", "bibliographicVolumeNumber": "36", "bibliographic_titles": [{"bibliographic_title": "生産研究"}]}]}, "item_4_description_6": {"attribute_name": "内容記述", "attribute_value_mlt": [{"subitem_description": "特集 生産・加工システムの最適化", "subitem_description_type": "Other"}]}, "item_4_full_name_3": {"attribute_name": "著者別名", "attribute_value_mlt": [{"nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "39584", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}], "names": [{"name": "Sato, Hisayoshi"}]}, {"nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "39585", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}], "names": [{"name": "O-hori, Masanori"}]}]}, "item_4_publisher_20": {"attribute_name": "出版者", "attribute_value_mlt": [{"subitem_publisher": "東京大学生産技術研究所"}]}, "item_4_source_id_10": {"attribute_name": "書誌レコードID", "attribute_value_mlt": [{"subitem_source_identifier": "AN00127075", "subitem_source_identifier_type": "NCID"}]}, "item_4_source_id_8": {"attribute_name": "ISSN", "attribute_value_mlt": [{"subitem_source_identifier": "0037105X", "subitem_source_identifier_type": "ISSN"}]}, "item_4_subject_15": {"attribute_name": "日本十進分類法", "attribute_value_mlt": [{"subitem_subject": "500", "subitem_subject_scheme": "NDC"}]}, "item_4_text_21": {"attribute_name": "出版者別名", "attribute_value_mlt": [{"subitem_text_value": "Institute of Industrial Science, the University of Tokyo"}]}, "item_4_text_34": {"attribute_name": "資源タイプ", "attribute_value_mlt": [{"subitem_text_value": "Departmental Bulletin Paper"}]}, "item_4_text_4": {"attribute_name": "著者所属", "attribute_value_mlt": [{"subitem_text_value": "東京大学生産技術研究所第2部 工作システム工学"}]}, "item_creator": {"attribute_name": "著者", "attribute_type": "creator", "attribute_value_mlt": [{"creatorNames": [{"creatorName": "佐藤, 壽芳"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "39582", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}, {"creatorNames": [{"creatorName": "大堀, 真敬"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "39583", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}]}, "item_files": {"attribute_name": "ファイル情報", "attribute_type": "file", "attribute_value_mlt": [{"accessrole": "open_date", "date": [{"dateType": "Available", "dateValue": "2017-06-08"}], "displaytype": "detail", "download_preview_message": "", "file_order": 0, "filename": "sk036002008.pdf", "filesize": [{"value": "444.5 kB"}], "format": "application/pdf", "future_date_message": "", "is_thumbnail": false, "licensetype": "license_free", "mimetype": "application/pdf", "size": 444500.0, "url": {"label": "sk036002008.pdf", "url": "https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/20199/files/sk036002008.pdf"}, "version_id": "41a03575-ae54-4841-b923-9ec52f12ea81"}]}, "item_language": {"attribute_name": "言語", "attribute_value_mlt": [{"subitem_language": "jpn"}]}, "item_resource_type": {"attribute_name": "資源タイプ", "attribute_value_mlt": [{"resourcetype": "departmental bulletin paper", "resourceuri": "http://purl.org/coar/resource_type/c_6501"}]}, "item_title": "特集7 : 研究速報 : 走査電子顕微鏡(SEM)を用いた表面粗さ測定 : ディジタル方式による", "item_titles": {"attribute_name": "タイトル", "attribute_value_mlt": [{"subitem_title": "特集7 : 研究速報 : 走査電子顕微鏡(SEM)を用いた表面粗さ測定 : ディジタル方式による"}]}, "item_type_id": "4", "owner": "1", "path": ["1546", "1547"], "permalink_uri": "http://hdl.handle.net/2261/38962", "pubdate": {"attribute_name": "公開日", "attribute_value": "2011-08-22"}, "publish_date": "2011-08-22", "publish_status": "0", "recid": "20199", "relation": {}, "relation_version_is_last": true, "title": ["特集7 : 研究速報 : 走査電子顕微鏡(SEM)を用いた表面粗さ測定 : ディジタル方式による"], "weko_shared_id": null}
特集7 : 研究速報 : 走査電子顕微鏡(SEM)を用いた表面粗さ測定 : ディジタル方式による
http://hdl.handle.net/2261/38962
http://hdl.handle.net/2261/389623908b063-e656-4b46-9335-150799bcd094
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
---|---|---|
sk036002008.pdf (444.5 kB)
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|
Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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公開日 | 2011-08-22 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 特集7 : 研究速報 : 走査電子顕微鏡(SEM)を用いた表面粗さ測定 : ディジタル方式による | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
タイプ | departmental bulletin paper | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | Surfuce Roughness Measurement Using Scanning Electron Microscope : by Digital Method | |||||
著者 |
佐藤, 壽芳
× 佐藤, 壽芳× 大堀, 真敬 |
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著者別名 | ||||||
識別子 | 39584 | |||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
姓名 | Sato, Hisayoshi | |||||
著者別名 | ||||||
識別子 | 39585 | |||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
姓名 | O-hori, Masanori | |||||
著者所属 | ||||||
著者所属 | 東京大学生産技術研究所第2部 工作システム工学 | |||||
内容記述 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 特集 生産・加工システムの最適化 | |||||
書誌情報 |
生産研究 巻 36, 号 2, p. 86-89, 発行日 1984-02-01 |
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ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
収録物識別子 | 0037105X | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AN00127075 | |||||
日本十進分類法 | ||||||
主題 | 500 | |||||
主題Scheme | NDC | |||||
出版者 | ||||||
出版者 | 東京大学生産技術研究所 | |||||
出版者別名 | ||||||
Institute of Industrial Science, the University of Tokyo |