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  1. 113 工学系研究科・工学部
  2. 46 原子力国際専攻
  3. 1134620 博士論文(原子力国際専攻)
  1. 0 資料タイプ別
  2. 20 学位論文
  3. 021 博士論文

Development of X-ray imaging system using silicon strip detector

https://doi.org/10.15083/00073075
https://doi.org/10.15083/00073075
ede759bb-010d-4ae4-b385-cbf69ed4f151
名前 / ファイル ライセンス アクション
A32173.pdf A32173.pdf (6.4 MB)
A32173_abstract.pdf A32173_abstract.pdf (74.7 kB)
A32173_review.pdf A32173_review.pdf (115.5 kB)
Item type 学位論文 / Thesis or Dissertation(1)
公開日 2017-10-20
タイトル
タイトル Development of X-ray imaging system using silicon strip detector
言語
言語 eng
資源タイプ
資源 http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec
タイプ thesis
ID登録
ID登録 10.15083/00073075
ID登録タイプ JaLC
その他のタイトル
その他のタイトル シリコンストリップ検出器を用いたX線撮像システムの開発
著者 厳, 小松

× 厳, 小松

WEKO 143473

厳, 小松

Search repository
著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 143474
姓名 Yan, Xiaosong
著者所属
著者所属 工学系研究科原子力国際専攻
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 学位の種別: 課程博士
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 審査委員会委員 : (主査)東京大学教授 高橋 浩之, 東京大学教授 上坂 充, 東京大学准教授 出町 和之, 東京大学准教授 大野 雅史, 東京都市大学教授 河原林 順
書誌情報 発行日 2015-09-25
著者版フラグ
値 ETD
学位名
学位名 博士(工学)
学位
値 doctoral
学位授与機関
学位授与機関名 University of Tokyo(東京大学)
研究科・専攻
Department of Nuclear Engineering and Management, Graduate School of Engineering (工学系研究科原子力国際専攻)
学位授与年月日
学位授与年月日 2015-09-25
学位授与番号
学位授与番号 12601甲第32173号
学位記番号
博工第8711号
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Ver.1 2021-03-01 18:15:31.706783
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