WEKO3
アイテム
Development of X-ray imaging system using silicon strip detector
https://doi.org/10.15083/00073075
https://doi.org/10.15083/00073075ede759bb-010d-4ae4-b385-cbf69ed4f151
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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A32173.pdf (6.4 MB)
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A32173_abstract.pdf (74.7 kB)
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A32173_review.pdf (115.5 kB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2017-10-20 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Development of X-ray imaging system using silicon strip detector | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
| タイプ | thesis | |||||
| ID登録 | ||||||
| ID登録 | 10.15083/00073075 | |||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | シリコンストリップ検出器を用いたX線撮像システムの開発 | |||||
| 著者 |
厳, 小松
× 厳, 小松 |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 143474 | |||||
| 姓名 | Yan, Xiaosong | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 著者所属 | 工学系研究科原子力国際専攻 | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 学位の種別: 課程博士 | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 審査委員会委員 : （主査）東京大学教授 高橋 浩之, 東京大学教授 上坂 充, 東京大学准教授 出町 和之, 東京大学准教授 大野 雅史, 東京都市大学教授 河原林 順 | |||||
| 書誌情報 | 発行日 2015-09-25 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 値 | ETD | |||||
| 学位名 | ||||||
| 学位名 | 博士(工学) | |||||
| 学位 | ||||||
| 値 | doctoral | |||||
| 学位授与機関 | ||||||
| 学位授与機関名 | University of Tokyo(東京大学) | |||||
| 研究科・専攻 | ||||||
| Department of Nuclear Engineering and Management, Graduate School of Engineering (工学系研究科原子力国際専攻) | ||||||
| 学位授与年月日 | ||||||
| 学位授与年月日 | 2015-09-25 | |||||
| 学位授与番号 | ||||||
| 学位授与番号 | 12601甲第32173号 | |||||
| 学位記番号 | ||||||
| 博工第8711号 | ||||||
