WEKO3
アイテム
Development of X-ray imaging system using silicon strip detector
https://doi.org/10.15083/00073075
https://doi.org/10.15083/00073075ede759bb-010d-4ae4-b385-cbf69ed4f151
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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A32173.pdf (6.4 MB)
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A32173_abstract.pdf (74.7 kB)
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A32173_review.pdf (115.5 kB)
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Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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公開日 | 2017-10-20 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | Development of X-ray imaging system using silicon strip detector | |||||
言語 | ||||||
言語 | eng | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
資源タイプ | thesis | |||||
ID登録 | ||||||
ID登録 | 10.15083/00073075 | |||||
ID登録タイプ | JaLC | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | シリコンストリップ検出器を用いたX線撮像システムの開発 | |||||
著者 |
厳, 小松
× 厳, 小松 |
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著者別名 | ||||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
識別子 | 143474 | |||||
姓名 | Yan, Xiaosong | |||||
著者所属 | ||||||
値 | 工学系研究科原子力国際専攻 | |||||
内容記述 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 学位の種別: 課程博士 | |||||
内容記述 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 審査委員会委員 : (主査)東京大学教授 高橋 浩之, 東京大学教授 上坂 充, 東京大学准教授 出町 和之, 東京大学准教授 大野 雅史, 東京都市大学教授 河原林 順 | |||||
書誌情報 | 発行日 2015-09-25 | |||||
著者版フラグ | ||||||
値 | ETD | |||||
学位名 | ||||||
学位名 | 博士(工学) | |||||
学位 | ||||||
値 | doctoral | |||||
学位授与機関 | ||||||
学位授与機関名 | University of Tokyo(東京大学) | |||||
研究科・専攻 | ||||||
値 | Department of Nuclear Engineering and Management, Graduate School of Engineering (工学系研究科原子力国際専攻) | |||||
学位授与年月日 | ||||||
学位授与年月日 | 2015-09-25 | |||||
学位授与番号 | ||||||
学位授与番号 | 12601甲第32173号 | |||||
学位記番号 | ||||||
値 | 博工第8711号 |